探針冷熱臺(tái)是一種用于材料分析、半導(dǎo)體測(cè)試、生物實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域的精密設(shè)備,能夠提供精確的溫度控制環(huán)境,支持樣品在高溫或低溫下的測(cè)試。
1.溫度控制范圍廣
冷熱臺(tái)通常支持從極低溫度到高溫的寬范圍溫度控制。
低溫可通過(guò)液氮或制冷機(jī)實(shí)現(xiàn),高溫通過(guò)電熱絲或加熱板實(shí)現(xiàn)。
2.高精度控溫
配備先進(jìn)的溫控系統(tǒng)(如PID控制器),溫度穩(wěn)定性可達(dá)±0.1℃~±0.5℃。
部分型號(hào)支持程序控溫,可設(shè)置多段升溫/降溫曲線。
3.模塊化設(shè)計(jì)
冷熱臺(tái)通常由加熱/制冷模塊、樣品臺(tái)、探針系統(tǒng)、溫度傳感器和控制系統(tǒng)組成。
可根據(jù)需求選配不同功能模塊(如顯微鏡、力加載裝置等)。
4.兼容性強(qiáng)
支持多種探針或測(cè)試設(shè)備(如電學(xué)探針、光學(xué)探頭、力學(xué)探針等)的接入。
可與顯微鏡、光譜儀、電流電壓測(cè)試儀等設(shè)備聯(lián)用。
5.樣品臺(tái)特性
樣品臺(tái)通常采用高導(dǎo)熱材料(如銅、鋁)制成,確保溫度均勻性。
部分型號(hào)支持樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)或傾斜,方便多角度測(cè)試。
6.防護(hù)與安全性
配備隔熱罩或真空腔體,減少外界環(huán)境對(duì)溫度的影響。
具備過(guò)溫保護(hù)、漏電保護(hù)等功能,確保操作安全。
二、探針冷熱臺(tái)核心配置:
1.溫度控制模塊
制冷方式:液氮冷卻、斯特林制冷機(jī)或半導(dǎo)體制冷(根據(jù)溫度范圍選擇)。
加熱方式:電熱絲、加熱板或紅外加熱。
溫度傳感器:鉑電阻、熱電偶或紅外測(cè)溫儀。
2.探針系統(tǒng)
電學(xué)探針:用于測(cè)試材料的電學(xué)性能(如電阻、電流-電壓曲線)。
光學(xué)探針:用于顯微觀察或光譜分析(如拉曼光譜、熒光光譜)。
力學(xué)探針:用于納米壓痕、劃痕測(cè)試等力學(xué)性能分析。
3.顯微鏡系統(tǒng)
可選配光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡,用于觀察樣品表面形貌。
部分型號(hào)支持顯微成像與探針測(cè)試同步進(jìn)行。
4.程序控溫軟件
支持多段升溫/降溫程序設(shè)置,可模擬復(fù)雜環(huán)境條件。
實(shí)時(shí)顯示溫度曲線、測(cè)試數(shù)據(jù),并支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出。
5.樣品固定裝置
提供多種樣品固定方式(如磁吸、夾持、粘貼等),適應(yīng)不同樣品形態(tài)。
部分型號(hào)支持原位測(cè)試(如拉伸、壓縮、加熱過(guò)程中實(shí)時(shí)測(cè)試)。
